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直觀查抄法它是維修人員開始利用的要領(lǐng)，即在妨礙診斷時(shí)，由外向內(nèi)逐一舉行觀察查抄。特別要過細(xì)觀察電路板的元器件及線路是否有燒傷、裂痕等征象、電路板上是否有短路、斷路，芯片打仗不良等征象，對付已維修過的電路板，更要過細(xì)有完好件、錯(cuò)件及斷線等環(huán)境。

成果步調(diào)測試法是將數(shù)控體系的G、M、S、T、F成果用編程法編成一個(gè)成果試驗(yàn)步調(diào)，并存儲在相應(yīng)的介質(zhì)上，如紙帶和磁帶等。在妨礙診斷時(shí)運(yùn)行這個(gè)步調(diào)，可快速鑒定妨礙產(chǎn)生的大概因由。成果步調(diào)測試法常應(yīng)用于以了局所機(jī)床加工造成廢品而臨時(shí)無法確定是編程操作不妥、還是數(shù)控體系妨礙引起。數(shù)控體系出現(xiàn)隨機(jī)性妨礙。臨時(shí)難以區(qū)別是外來滋擾，還是體系穩(wěn)固性不好。閑置時(shí)間較長的數(shù)控機(jī)床在投入利用前或?qū)?shù)控機(jī)床舉行定期檢修時(shí)。

試探互換法即在分析出妨礙大抵因由的環(huán)境下，維修人員可以利用備用的印刷電路板、集成電路芯片或元器件更換有疑點(diǎn)的部門，從而把妨礙范疇縮小到印刷線路板或芯片一級。

接納此法之前要過細(xì)備用板的設(shè)定狀態(tài)與原板的狀態(tài)是否完全劃一，這包羅查抄板上的選擇開關(guān)、短路棒的設(shè)定位置以及電位器的位置。一樣平常不要方便更放CPU板及存儲器板，否則有大概造成步調(diào)和機(jī)床參數(shù)的丟失，造成妨礙的擴(kuò)大；如果EPROM板或EPROM芯片，請過細(xì)存儲器芯片上貼的軟件版本標(biāo)簽是否與原板完全劃一，若不劃一，則不能變更。

參數(shù)查抄法產(chǎn)生妨礙時(shí)應(yīng)及時(shí)核對體系參數(shù)，參數(shù)一樣平常存放在磁泡存儲器或存放在需由電池連結(jié)的CMOS RAM中，一旦電池不夠或由于外界的滋擾等因素，使個(gè)別參數(shù)丟失或變革，產(chǎn)生混亂，使機(jī)床無法正常事情。此時(shí)，可議決核對、修正參數(shù)，將妨礙清除。

測量比力法CNC體系生產(chǎn)廠在計(jì)劃印刷線路板時(shí)，為了調(diào)解和維修方便，在印刷線路板上計(jì)劃了一些檢測量端子。維修人員議決檢測這些測量端子的電壓或波形，可查抄有關(guān)電路的事景況態(tài)是否正常。但利用檢測端子舉行測量之前，應(yīng)先熟習(xí)這些檢測端子的作用及有關(guān)部門的電路或邏輯干系。

除以上常用的妨礙檢測要領(lǐng)之外，還可以接納敲擊法查抄是否虛焊或打仗不良等�？傊鶕�(jù)差別的妨礙征象，可以同時(shí)選用幾個(gè)要領(lǐng)機(jī)動(dòng)應(yīng)用、綜合分析，才氣漸漸縮小妨礙范疇，較快地清除妨礙.